ASTM F 1892-2004 半导体器件电离辐射(总剂量)效应试验的标准指南

作者:标准资料网时间:2024-05-14 18:55:18 浏览:9283 来源:标准资料网

【英文标准名称】:StandardGuideforIonizingRadiation(TotalDose)EffectsTestingofSemiconductorDevices
【原文标准名称】:半导体器件电离辐射(总剂量)效应试验的标准指南
【标准号】:ASTMF1892-2004
【标准状态】:作废
【国别】:美国
【发布日期】:2004
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(ASTM)
【起草单位】:ASTM
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:微电子学;X射线试验;双极;半导体器件;电离辐射
【英文主题词】:Bipolar;Ionizingradiation;Microelectronics;Semiconductordevices;X-raytesting
【摘要】:
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:39P;A4
【正文语种】:英语

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