ASTM F1723-2002 用浮区晶体增长和光谱法评估多晶硅竿材的标准实施规范

作者:标准资料网时间:2024-05-18 02:48:17 浏览:9496 来源:标准资料网

【英文标准名称】:StandardPracticeforEvaluationofPolycrystallineSiliconRodsbyFloat-ZoneCrystalGrowthandSpectroscopy
【原文标准名称】:用浮区晶体增长和光谱法评估多晶硅竿材的标准实施规范
【标准号】:ASTMF1723-2002
【标准状态】:作废
【国别】:
【发布日期】:2002
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(US-ASTM)
【起草单位】:F01.06
【标准类型】:(Practice)
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:contaminants;float-zonecrystalgrowth;impurities;polycrystallinesilicon;polysiliconevaluation;segregationcoefficient;singlecrystalsilicon;NumberCode71.040.50(Physicochemicalmethodsofanalysis)
【摘要】:ThisstandardwastransferredtoSEMI(www.semi.org)May20031.1Thispracticerecommendsproceduresforsamplingpolycrystallinesiliconrodsandgrowingsinglecrystalsfromthesesamplesbythefloat-zonetechnique.Theresultantsinglecryst
【中国标准分类号】:L10
【国际标准分类号】:71_040_50
【页数】:9P.;A4
【正文语种】:

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