BS EN 60749-6-2002 半导体器件.机械和气候试验方法.高温下储存

作者:标准资料网 时间:2024-05-22 01:24:35  浏览:8971   来源:标准资料网

【英文标准名称】:Semiconductordevices-Mechanicalandclimatictestmethods-Storageathightemperature
【原文标准名称】:半导体器件.机械和气候试验方法.高温下储存
【标准号】:BSEN60749-6-2002
【标准状态】:现行
【国别】:英国
【发布日期】:2002-09-10
【实施或试行日期】:2002-09-10
【发布单位】:英国标准学会(BSI)
【起草单位】:BSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:机械试验;电子设备及元件;半导体;试验;电气工程;电子工程;组件;环境试验;气候;储存;电学测量;半导体器件;气候试验;集成电路
【英文主题词】:
【摘要】:ThepurposeofthispartofIEC60749istotestanddeterminetheeffectonallsemiconductorelectronicdevicesofstorageatelevatedtemperaturewithoutelectricalstressapplied.Thistestisconsiderednon-destructivebutshouldpreferablybeusedfordevicequalification.Ifsuchdevicesareusedfordelivery,theeffectsofthishighlyacceleratedstresstestwillneedtobeevaluated.Ingeneral,thistestofstorageathightemperatureisinconformitywithIEC60068-2-48but,duetospecificrequirementsofsemiconductors,theclausesofthisstandardapply.
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:8P;A4
【正文语种】:英语