ASTM F 81-1995 硅片径向电阻率变化测量的试验方法

作者:标准资料网 时间:2024-05-14 06:28:36  浏览:9155   来源:标准资料网

【英文标准名称】:TestMethodforMeasuringRadialResistivityVariationonSiliconSlices
【原文标准名称】:硅片径向电阻率变化测量的试验方法
【标准号】:ASTMF81-1995
【标准状态】:作废
【国别】:美国
【发布日期】:1995
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(ASTM)
【起草单位】:ASTM
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:矽;电子工程;耐力;硅;垫圈;测量;径向
【英文主题词】:measurement;electronicengineering;resistance;washers;radial;silicon
【摘要】:
【中国标准分类号】:H81
【国际标准分类号】:29_040_30
【页数】:
【正文语种】:英语